＜図書＞
In-circuit testing / John Bateson
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York : Van Nostrand Reinhold |
| 出版年 | c1985 |
| 大きさ | xvii, 243 p. : ill. ; 24 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 東京西 2F一般 |
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547.36/B27 | 8901177736 |
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0442212844 |
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| 一般注記 | Bibliography: p. 219 Includes index |
|---|---|
| 著者標目 | *Bateson, John |
| 件 名 | LCSH:Printed circuits -- Testing 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:TK7868.P7 DC19:621.381/74/0287 |
| 書誌ID | 2000062010 |
| ISBN | 0442212844 |
| NCID | BA27525698 |