<図書>
Built-in test for VLSI : pseudorandom techniques / Paul H. Bardell, William H. McAnney, Jacob Savir
データ種別 | 図書 |
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出版者 | New York : Wiley |
出版年 | c1987 |
大きさ | xiii, 354 p. : ill. ; 24 cm |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
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東京西 2F一般 |
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549.8/B21 | 8901155740 |
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0471624632 |
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書誌詳細を表示
本文言語 | 英語 |
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一般注記 | "A Wiley-Interscience publication." Bibliography: p. 339-345 Includes index |
著者標目 | *Bardell, Paul H. McAnney, William H. Savir, Jacob |
件 名 | LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing 全ての件名で検索 |
分 類 | LCC:TK7874 DC19:621.381/73 |
書誌ID | 2000062403 |
ISBN | 0471624632 |
NCID | BA03837947 |