<図書>
Modern optical characterization techniques for semiconductors and semiconductor devices : 26-27 March, 1987, Bay Point, Florida / O.J. Glembocki, Fred H. Pollak, J.J. Song,chairs/editors ; sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering ; cooperating sponsor, the Metallurgical Society
(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 794)
データ種別 | 図書 |
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出版者 | Bellingham, Wash., USA : SPIE |
出版年 | 1987 |
大きさ | vi, 282 p. : ill. ; 28 cm |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
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東京西 2F一般 | pbk. | 549.8/Mo13 | 8901215643 |
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089252829X |
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本文言語 | 英語 |
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一般注記 | Includes bibliographies and index |
著者標目 | Glembocki, Orest J. Pollak, Fred H. Song, J. J. Society of Photo-optical Instrumentation Engineers Metallurgical Society (U.S.) |
件 名 | LCSH:Thin film devices -- Congresses
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LCSH:Thin films -- Optical properties -- Congresses 全ての件名で検索 |
分 類 | LCC:TK7872.T55 DC19:621.381/7 |
書誌ID | 2000062580 |
ISBN | 089252829X |
NCID | BA13205462 |