<図書>
Measurement and effects of surface defects and quality of polish : January 21-22, 1985, Los Angeles, California / cosponsor Sira Ltd.--The research association for instrumentation ; Lionel R. Baker, Harold E. Bennett, chairmen/editors
(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 525)
データ種別 | 図書 |
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出版者 | Bellingham, Wash., USA : SPIE--the International Society for Optical Engineering |
出版年 | c1985 |
大きさ | vi, 198 p. : ill. ; 28 cm |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
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東京西 2F一般 | pbk. | 535.87/Me11 | 8901158710 |
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0892525606 |
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書誌詳細を表示
本文言語 | 英語 |
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一般注記 | Includes bibliographies and index |
著者標目 | Baker, L. R. (Lionel R.) Bennett, Harold Earl, 1929- Sira Limited |
件 名 | LCSH:Lenses -- Defects -- Congresses 全ての件名で検索 |
分 類 | LCC:TS517.3 DC19:681/.423 |
書誌ID | 2000067106 |
ISBN | 0892525606 |
NCID | BA23996502 |