<図書>
Monte Carlo modeling for electron microscopy and microanalysis / David C. Joy
(Oxford series in optical and imaging sciences ; 9)
データ種別 | 図書 |
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出版者 | New York : Oxford University Press |
出版年 | 1995 |
大きさ | viii, 216 p. ; 24 cm |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
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千住 一般 |
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549.97/J84 | 0410700041 |
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0195088743 |
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書誌詳細を表示
本文言語 | 英語 |
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一般注記 | Includes bibliographical references |
著者標目 | *Joy, David C., 1943- |
件 名 | LCSH:Electron microscopy -- Computer simulation
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LCSH:Electron probe microanalysis -- Computer simulation 全ての件名で検索 LCSH:Monte Carlo method |
分 類 | LCC:QH212.E4 DC20:502/.8/25 |
書誌ID | 2000084903 |
ISBN | 0195088743 |
NCID | BA25524402 |