＜雑誌＞
IEEE transactions on reliability / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| データ種別 | 雑誌 |
|---|---|
| 出版者 | New York |
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所蔵巻号一覧
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| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 別書名 | 略タイトル:IEEE trans. reliab キータイトル:IEEE transactions on reliability |
| 変遷注記 | 継続前誌:IRE transactions on reliability and quality control / Institute of Radio Engineers |
| 著者標目 | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| 件 名 | LCSH:Electronic industries -- Quality control -- Periodicals 全ての件名で検索 |
| 書誌ID | 3000000110 |
| ISSN | 00189529 |
| NCID | AA00668109 |