＜図書＞
Defect recognition and image processing in III-V compounds : proceedings of the International Symposium on Defect Recogition and Image Processing in III-V Compounds (DRIP 1985), Montpellier, France, July 2-4, 1985 / edited by J.P. Fillard
(Materials science monographs ; 31)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Amsterdam ; Tokyo : Elsevier |
| 出版年 | 1985 |
| 大きさ | xii, 306 p. : ill. ; 25 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 千住 一般 |
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549.8/I57 | 9303002480 |
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0444425586 |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 東京西 2F一般 |
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549.8/I57 | 8901157977 |
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0444425586 |
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書誌詳細を表示
| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 一般注記 | Includes bibliographies and index |
| 著者標目 | *International Symposium on Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds (1985 : Montpellier, France) Fillard, J. P. |
| 件 名 | LCSH:Semiconductors -- Defects -- Congresses
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LCSH:Gallium arsenide -- Congresses 全ての件名で検索 LCSH:Image processing -- Congresses 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:TK7871.85 DC19:621.3815/2 |
| 書誌ID | 2000023013 |
| ISBN | 0444425586 |
| NCID | BA00230809 |