＜図書＞
Accelerated testing : statistical models, test plans and data analysis / Wayne Nelson
(Wiley series in probability and mathematical statistics ; . Applied probability and statistics)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York : Wiley |
| 出版年 | c1990 |
| 大きさ | xiv, 601 p. : ill. ; 25 cm |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 千住 一般 |
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417/N63 | 9201389252 |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 東京西 2F一般 |
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417/N63 | 9001299107 |
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書誌詳細を表示
| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 一般注記 | "A Wiley-Interscience publication." Includes bibliographical references (p. 561-577) and index |
| 著者標目 | *Nelson, Wayne, 1936- |
| 件 名 | LCSH:Failure time data analysis LCSH:Reliability (Engineering) -- Statistical methods 全ての件名で検索 LCSH:Accelerated life testing -- Statistical methods 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:QA276 DC20:519.5 |
| 書誌ID | 2000024777 |
| ISBN | 0471522775 |
| NCID | BA10134812 |