＜図書＞
Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Dale E. Newbury ... [et al.]
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York : Plenum Press |
| 出版年 | c1986 |
| 大きさ | xii, 454 p. : ill. ; 24 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 東京西 2F一般 |
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549.53/A16 | 8901200082 |
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0306421402 |
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書誌詳細を表示
| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 一般注記 | Bibliography: p. 435-448 Includes index |
| 著者標目 | Newbury, Dale E. |
| 件 名 | LCSH:Scanning electron microscope LCSH:X-ray microanalysis |
| 分 類 | LCC:212.S3 DC19:502/.825 NDC8:425.9 |
| 書誌ID | 2000061711 |
| ISBN | 0306421402 |
| NCID | BA00238640 |