＜図書＞
Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 版 | 3rd ed |
| 出版者 | [S.l.] : IEEE Press |
| 出版者 | Hoboken, N.J. : Wiley-Interscience |
| 出版年 | c2006 |
| 大きさ | xv, 779 p. : ill. ; 25 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 研究室 |
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549.8/Sc7 | 0610729121 |
|
0471739065 |
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書誌詳細を表示
| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
| 著者標目 | *Schroder, Dieter K. |
| 件 名 | LCSH:Semiconductors LCSH:Semiconductors -- Testing 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:QC611 DC21:621.3815/2 NDLC:MC151 |
| 書誌ID | 4000000609 |
| ISBN | 0471739065 |
| NCID | BA76086798 |