＜図書＞
Selected papers on analog fault diagnosis / edited by Ruey-Wen Liu
(Advances in circuits and systems)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York : IEEE Press |
| 出版年 | c1987 |
| 大きさ | iii, 143 p. : ill. ; 28 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 東京西 2F一般 | : pbk | 549/Se47 | 8901155450 |
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087942222X |
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書誌詳細を表示
| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 別書名 | 背表紙タイトル:Analog fault diagnosis |
| 一般注記 | Spine title: Analog fault diagnosis Includes bibliographies and index "IEEE order number: PPO213-9" -- t.p. verso |
| 著者標目 | Liu, Ruey-Wen, 1930- |
| 件 名 | LCSH:Analog electronic systems -- Testing 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:TK7870 DC19:621.381/028/5 |
| 書誌ID | 2000062309 |
| ISBN | 087942222X |
| NCID | BA04962740 |