＜図書＞
Defects and properties of semiconductors : defect engineering / edited by J. Chikawa, K. Sumino, and K. Wada
(Advances in solid state technology)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Tokyo : KTK Scientific |
| 出版者 | Dordrecht ; Boston : D. Reidel |
| 出版者 | Norwell, MA, U.S.A. : Distributed in the U.S.A. and Canada by Kluwer Academic |
| 出版年 | c1987 |
| 大きさ | vi, 261 p. : ill. ; 24 cm |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 東京西 2F一般 |
|
549.8/D53 | 8901201114 |
|
9027723524 |
|
書誌詳細を表示
| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 一般注記 | Includes bibliographies and index "Papers presented at the Symposium on "Defects and Qualities of Semiconductors" which was held in Tokyo on May 17-18, 1984 under the sponsorship of the Society of Non-Traditional Technology"--Pref |
| 著者標目 | Chikawa, J. (Junichi), 1930- Sumino, K. (Kōji), 1931- Wada, K. (Kazumi), 1950- Symposium on "Defects and Qualities of Semiconductors" (1984 : Tokyo, Japan) Society of Non-Traditional Technology (Japan) |
| 件 名 | LCSH:Semiconductors -- Defects -- Congresses 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:QC611.6.D4 DC19:621.3815/2 |
| 書誌ID | 2000080169 |
| ISBN | 9027723524 |
| NCID | BA0364350X |