＜図書＞
Built-in test for VLSI : pseudorandom techniques / Paul H. Bardell, William H. McAnney, Jacob Savir
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York : Wiley |
| 出版年 | c1987 |
| 大きさ | xiii, 354 p. : ill. ; 24 cm |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 東京西 2F一般 |
|
549.8/B21 | 8901155740 |
|
0471624632 |
|
書誌詳細を表示
| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 一般注記 | "A Wiley-Interscience publication." Bibliography: p. 339-345 Includes index |
| 著者標目 | *Bardell, Paul H. McAnney, William H. Savir, Jacob |
| 件 名 | LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:TK7874 DC19:621.381/73 |
| 書誌ID | 2000062403 |
| ISBN | 0471624632 |
| NCID | BA03837947 |