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<図書>
Spectroscopic characterization techniques for semiconductor technology II : January 21-22, 1985, Los Angeles, California / Fred H. Pollak, chairman/editor
(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 524)

データ種別 図書
出版者 Bellingham, Wash. : SPIE -- the International Society for Optical Engineering
出版年 c1985
大きさ vi, 169 p. : ill. ; 28 cm

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東京西 2F一般
549.8/Sp3 8901178361
0892525592

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本文言語 英語
著者標目 Pollak, Fred H.
Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
書誌ID 2000062597
ISBN 0892525592
NCID BA23996422