＜図書＞
Characterization of very high speed semiconductor devices and integrated circuits : 23-25 March, 1987, Bay Point, Florida / Ravi Jain, editor ; sponsored by SPIE--the International Societyfor Optical Engineering ; cooperating sponsor, the Metallurgical Society
(Critical reviews of optical science and technology)
(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 795)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Bellingham, Wash., USA : SPIE |
| 出版年 | c1987 |
| 大きさ | x, 359 p. : ill. ; 28 cm |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 東京西 2F一般 |
|
549.8/C34 | 8901215684 |
|
|
|
書誌詳細を表示
| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 一般注記 | Includes bibliographies and index |
| 著者標目 | Jain, Ravi Society of Photo-optical Instrumentation Engineers Metallurgical Society (U.S.) |
| 件 名 | LCSH:Very high speed integrated circuits -- Congresses
全ての件名で検索
LCSH:Semiconductors -- Congresses 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:TK7874 DC20:621.381/5 |
| 書誌ID | 2000025011 |
| ISBN | 0892528303 |
| NCID | BA13194129 |