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<図書>
Modern optical characterization techniques for semiconductors and semiconductor devices : 26-27 March, 1987, Bay Point, Florida / O.J. Glembocki, Fred H. Pollak, J.J. Song,chairs/editors ; sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering ; cooperating sponsor, the Metallurgical Society
(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 794)

データ種別 図書
出版者 Bellingham, Wash., USA : SPIE
出版年 1987
大きさ vi, 282 p. : ill. ; 28 cm

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東京西 2F一般 pbk. 549.8/Mo13 8901215643
089252829X

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本文言語 英語
一般注記 Includes bibliographies and index
著者標目 Glembocki, Orest J.
Pollak, Fred H.
Song, J. J.
Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
Metallurgical Society (U.S.)
件 名 LCSH:Thin film devices -- Congresses  全ての件名で検索
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分 類 LCC:TK7872.T55
DC19:621.381/7
書誌ID 2000062580
ISBN 089252829X
NCID BA13205462

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