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<図書>
Measurement and effects of surface defects and quality of polish : January 21-22, 1985, Los Angeles, California / cosponsor Sira Ltd.--The research association for instrumentation ; Lionel R. Baker, Harold E. Bennett, chairmen/editors
(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 525)

データ種別 図書
出版者 Bellingham, Wash., USA : SPIE--the International Society for Optical Engineering
出版年 c1985
大きさ vi, 198 p. : ill. ; 28 cm

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東京西 2F一般 pbk. 535.87/Me11 8901158710
0892525606

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本文言語 英語
一般注記 Includes bibliographies and index
著者標目 Baker, L. R. (Lionel R.)
Bennett, Harold Earl, 1929-
Sira Limited
件 名 LCSH:Lenses -- Defects -- Congresses  全ての件名で検索
分 類 LCC:TS517.3
DC19:681/.423
書誌ID 2000067106
ISBN 0892525606
NCID BA23996502

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