<図書>
Structural and chemical analysis of materials : X-ray, electron and neutron diffraction, X-ray, electron and ion spectrometry, electron microscopy / J.P. Eberhart ; translated by J.P. Eberhart
データ種別 | 図書 |
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出版者 | Chichester, England ; New York : Wiley |
出版年 | c1991 |
大きさ | xxx, 545 p. : ill. ; 26 cm |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
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東京西 2F一般 |
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501.4/E13 | 9201383560 |
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書誌詳細を表示
本文言語 | 英語 |
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別書名 | 原タイトル:Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, neutrons et électrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique |
一般注記 | Translation of: Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, neutrons et électrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique Includes bibliographical references and index |
著者標目 | *Eberhart, J. -P. (Jean-Pierre) |
件 名 | LCSH:Materials -- Microscopy
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LCSH:Microstructure |
分 類 | LCC:TA417.23 DC20:620.1/1299 |
書誌ID | 2000011784 |
ISBN | 0471929778 |
NCID | BA12872654 |