このページのリンク

<図書>
Structural and chemical analysis of materials : X-ray, electron and neutron diffraction, X-ray, electron and ion spectrometry, electron microscopy / J.P. Eberhart ; translated by J.P. Eberhart

データ種別 図書
出版者 Chichester, England ; New York : Wiley
出版年 c1991
大きさ xxx, 545 p. : ill. ; 26 cm

所蔵情報を非表示

東京西 2F一般
501.4/E13 9201383560


書誌詳細を表示

本文言語 英語
別書名 原タイトル:Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, neutrons et électrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique
一般注記 Translation of: Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, neutrons et électrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique
Includes bibliographical references and index
著者標目 *Eberhart, J. -P. (Jean-Pierre)
件 名 LCSH:Materials -- Microscopy  全ての件名で検索
LCSH:Microstructure
分 類 LCC:TA417.23
DC20:620.1/1299
書誌ID 2000011784
ISBN 0471929778
NCID BA12872654

 類似資料