＜図書＞
Practical analytical electron microscopy in materials science / David B. Williams
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | [Weinheim, Basel] : Verlag Chemie International |
| 出版者 | Mahwah, N.J. : Electron Optics Pub. Co. |
| 出版年 | c1984 |
| 大きさ | vii, 153 p. : ill. ; 29 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 東京西 2F一般 |
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501.5/W74 | 8901171630 |
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書誌詳細を表示
| 本文言語 | 英語 |
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| 一般注記 | Includes bibliographies and index |
| 著者標目 | *Williams, David B. (David Bernard), 1949- |
| 件 名 | LCSH:Materials -- Microscopy
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LCSH:Electron microscopy |
| 分 類 | LCC:TA417.23 DC19:620.1/1/0287 |
| 書誌ID | 2000038186 |
| ISBN | 3527262245 |
| NCID | BA03782481 |