＜図書＞
Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A. / editors, Noble M. Johnson, Stephen G. Bishop, George D. Watkins
(Materials Research Society symposia proceedings ; v. 46)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Pittsburgh, Pa. : Materials Research Society |
| 出版年 | c1985 |
| 大きさ | xv, 604 p. : ill. ; 24 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 東京西 2F一般 |
|
549.8/Mi13 | 8901157852 |
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0931837111 |
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書誌詳細を表示
| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 一般注記 | Includes bibliographies and indexes |
| 著者標目 | Johnson, Noble M. Bishop, Stephen G. Watkins, George D. Materials Research Society Materials Research Society. Meeting (1985 : San Francisco, Calif.) Symposium on Microscopic Identification of Electronic Defects in Semiconductors (1985 : San Francisco, Calif.) |
| 件 名 | LCSH:Semiconductors -- Defects -- Congresses
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| 分 類 | LCC:TK7871.85 DC19:621.3815/2 |
| 書誌ID | 2000062582 |
| ISBN | 0931837111 |
| NCID | BA03908080 |