＜図書＞
Staining methods for sectioned material / P.R. Lews and D.P. Knight . X-ray microanalysis in the electron microscope / John A. Chandler
(Practical methods in electron microscopy / edited by Audrey M. Glauert ; v. 5, pt. 1-2)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版情報 | Amsterdam : North-Holland , 1977 |
| 大きさ | xxi, 547 p. : ill. ; 23 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
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| 東京西 2F一般 |
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460.72/G48 | 8901213572 |
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書誌詳細を表示
| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 一般注記 | Includes bibliographies and indexes |
| 著者標目 | *Lewis, P. R. Knight, D. P. Chandler, John A. |
| 分 類 | NDLC:ND448 |
| 書誌ID | 2000024060 |
| ISBN | 0720406056 |
| NCID | BA0395620X |