＜図書＞
Logic testing and design for testability / Hideo Fujiwara
(MIT Press series in computer systems)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版情報 | Cambridge, Mass. : MIT Press , c1985 |
| 大きさ | x, 284 p. : ill. ; 24 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 千住 一般 |
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547.17/F68 | 8901177819 |
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0262060965 |
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書誌詳細を表示
| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 一般注記 | Bibliography: p. [272]-278 Includes index |
| 著者標目 | *藤原, 秀雄(1946-) <フジワラ, ヒデオ> |
| 件 名 | LCSH:Logic circuits -- Testing 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:TK7868.L6 DC19:621.3815/37 |
| 書誌ID | 2000061992 |
| ISBN | 0262060965 |
| NCID | BA0446462X |