＜図書＞
Spectroscopic characterization techniques for semiconductor technology II : January 21-22, 1985, Los Angeles, California / Fred H. Pollak, chairman/editor
(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 524)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版情報 | Bellingham, Wash. : SPIE -- the International Society for Optical Engineering , c1985 |
| 大きさ | vi, 169 p. : ill. ; 28 cm |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 東京西 2F一般 |
|
549.8/Sp3 | 8901178361 |
|
0892525592 |
|
書誌詳細を表示
| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 著者標目 | Pollak, Fred H. Society of Photo-optical Instrumentation Engineers |
| 書誌ID | 2000062597 |
| ISBN | 0892525592 |
| NCID | BA23996422 |