＜図書＞
Yield modelling and defect tolerance in VLSI : papers presented at the International Workshop on Designing for Yield, Oxford, 1-3 July 1987 / edited by Will Moore, Wojciech Maly, and Andrzej Strojwas
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版情報 | Bristol ; Philadelphia : A. Hilger , c1988 |
| 大きさ | vi, 282 p. ill. ; 24 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 千住 一般 |
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549.8/I57 | 8901158066 |
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085274398X |
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書誌詳細を表示
| 本文言語 | 英語 |
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| 一般注記 | Includes bibliographies and index |
| 著者標目 | Moore, Will Maly, W. Strojwas, Andrzej J. |
| 件 名 | LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction -- Congresses 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:TK7874 DC19:621.381/73 |
| 書誌ID | 2000062486 |
| ISBN | 085274398X |
| NCID | BA03911096 |