＜図書＞
TOEIC L&R testへの総合アプローチ / Yoshizuka Hiroshi, Graham Skerritt [著]
TOEIC L&R test エノ ソウゴウ アプローチ
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版情報 | 東京 : 成美堂 , 2025.1 |
| 大きさ | vi, 119p : 挿図 ; 26cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 千住 一般 |
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830.79/Y94 | 2512102829 |
|
9784791973132 |
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書誌詳細を表示
| 本文言語 | 日本語,英語 |
|---|---|
| 別書名 | 標題紙タイトル:Best practice for the TOEIC L&R Test |
| 著者標目 | 吉塚, 弘 <ヨシズカ, ヒロシ> Skerritt, Graham |
| 件 名 | BSH:英語 |
| 分 類 | NDC10:830.79 NDLC:Y45 |
| 書誌ID | 4000123281 |
| ISBN | 9784791973132 |
| NCID | BD11621093 |