＜図書＞
新・テスト理論 : 教育情報の構造分析法 / 竹谷誠著
シン テスト リロン : キョウイク ジョウホウ ノ コウゾウ ブンセキホウ
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版情報 | 東京 : 早稲田大学出版部 , 1991.4 |
| 大きさ | 313p ; 22cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 利用注記 | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 千住 一般 |
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371.7/Ta68 | 9201407427 |
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4657914162 |
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書誌詳細を表示
| 本文言語 | 日本語 |
|---|---|
| 一般注記 | 文献: p301-309 |
| 著者標目 | *竹谷, 誠(1941-) <タケヤ, マコト> |
| 件 名 | BSH:教育評価 |
| 分 類 | NDC8:371.7 NDC7:371.8 NDLC:FC63 |
| 書誌ID | 2000007989 |
| ISBN | 4657914162 |
| NCID | BN06351080 |