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RT Book, Whole SR Print DC OPAC T1 テストと信頼性 / 樹下行三編著 T2 マイクロコンピュータ基礎講座 A1 樹下, 行三(1936-) YR 1982 FD 1982.4 SP 218p K1 電子計算機 PB オーム社 PP 東京 LA Japanese (日本語) CL NDC8:548.2 CL NDC8:007.6 CL NDLC:M154 NO 監修:石井治,相磯秀夫 NO 参考文献:p209〜214 NO 書誌ID=2000026995; NCID=BN00609041; LK [OPAC]https://www.lib.ntu.ac.jp/opac/opac_link/bibid/2000026995 OL 58