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検索キーワード:(著者名に左の語を含む: #Song J. J.)
該当件数:1件
Modern optical characterization techniques for semiconductors and semiconductor devices : 26-27 March, 1987, Bay Point, Florida / O.J. Glembocki, Fred H. Pollak, J.J. Song,chairs/editors ; sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering ; cooperating sponsor, the Metallurgical Society
pbk.. - Bellingham, Wash., USA : SPIE , 1987. - (Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 794)
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