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検索キーワード:(標準分類: 501.55)
該当件数:6件
非破壊検査のおはなし / 加藤光昭著
東京 : 日本規格協会 , 1995.4
図書
ミクロの傷を追う : タフな新素材を求めて / 岸輝雄, 志波光晴共著
東京 : 丸善 , 1989.8. - (Frontier technology series ; [025])
固体の表面を測る / 二瓶好正編
東京 : 学会出版センター , 1997.2. - (日本分光学会測定法シリーズ ; 35)
材料評価のための分析電子顕微鏡法 / 進藤大輔, 及川哲夫共著
東京 : 共立出版 , 1999.5
材料評価のための高分解能電子顕微鏡法 / 進藤大輔, 平賀賢二共著
東京 : 共立出版 , 1996.5
先端材料評価のための電子顕微鏡技法 / 日本電子顕微鏡学会関東支部編
東京 : 朝倉書店 , 1991.12