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検索キーワード:(標準分類: TK7872.T55)
該当件数:4件
Ellipsometry for industrial applications / Karl Riedling
: us,: gw. - Wien ; New York : Springer-Verlag , 1988
図書
Modern optical characterization techniques for semiconductors and semiconductor devices : 26-27 March, 1987, Bay Point, Florida / O.J. Glembocki, Fred H. Pollak, J.J. Song,chairs/editors ; sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering ; cooperating sponsor, the Metallurgical Society
pbk.. - Bellingham, Wash., USA : SPIE , 1987. - (Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 794)
Plasma deposited thin films / editors, J. Mort, F. Jansen
Boca Raton, Fla. : CRC Press , c1986
Thin film technologies II : 15-17 April 1986, Innsbruck, Austria / J. Roland Jacobsson, chairman/editor ; organized by SPIE--the International Society for Optical Engineering, ANRT--Association nationale de la recherche technique (France)
pbk.. - Bellingham, Wash., USA : The Society , c1986. - (Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 652)