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検索キーワード:(件名: Integrated circuits Inspection Congresses)
該当件数:1件
Integrated circuit metrology, inspection, and process control , 4-6 March 1987, Santa Clara, California /Kevin M. Monahan, chair/editor ; sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering
pbk.. - Bellingham, Wash., USA : SPIE--the International Society for Optical Engineering , c1987. - (Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 775)
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